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CSPM5500系列研究級掃描探針顯微(wei)鏡(jing)
三(san)種型號(hao): CSPM5500/CSPM5500A/CSPM5500LS
CSPM5500掃描探針顯微鏡工作(zuo)模式簡介
環境檢(jian)測及(ji)控(kong)制掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)顯微(wei)鏡(jing)
磁力顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡/靜電力顯(xian)(xian)微(wei)(wei)鏡
液相掃描探針顯微鏡
精(jing)益求精(jing)、信心之選
納米加工
主流的(de)研究級專業儀器,集(ji)成(cheng)原子(zi)力顯微(wei)鏡(jing)(jing)(AFM),橫向力顯微(wei)鏡(jing)(jing)(LFM),掃描(miao)隧道顯微(wei)鏡(jing)(jing)(STM)
分辨率: 原子力(li)顯微鏡(jing):橫向0.2nm,垂直0.03nm(以云母晶體標定)
掃描隧道顯微(wei)鏡:橫向0.1nm,垂直0.01nm(以石墨晶體標(biao)定)
高精度(du)計量型儀器,采用NanoSensors提供的可(ke)溯源于計量機構PTB的標準(zhun)樣品進(jin)行校準(zhun)
一鍵式快(kuai)速全程全自(zi)動(dong)進樣(yang),無需手(shou)動(dong)預調(diao),行程大于30mm,可容納超大樣(yang)品,樣(yang)品尺寸為:45mm×45mm×30mm
兩級可(ke)讀數樣(yang)品調(diao)節機構,可(ke)對樣(yang)品進行無偏差的檢測區(qu)域(yu)定位
一次掃(sao)描(miao)技術,圖像分辨高(gao)達4096×4096物理象素,微米(mi)級掃(sao)描(miao)即可得到(dao)納(na)米(mi)級的實際信(xin)息
先進PID反(fan)饋算(suan)法實現(xian)快速高(gao)精(jing)度作用力(li)控(kong)制(zhi),確保系統在(zai)高(gao)速掃描(miao)中穩定成像,實際(ji)掃描(miao)速度提升(sheng)一個數量級
系統(tong)采用(yong)10M/100M快速以太網(Fast Ethernet 10/100)或(huo)USB 3.0與計算機連接,支(zhi)持固件遠程(cheng)升(sheng)級
主控機箱前面板具(ju)有16×4液晶顯示屏,系統(tong)當(dang)前狀態實時顯示
具(ju)備實時在線三維圖像顯示功能,便于用戶在檢測過程中隨時直觀(guan)獲(huo)得樣品信息
集成了多功能,多模式的新型原子力顯微(wei)鏡
系統功能
原子力顯微鏡(jing)(AFM):包括接觸(chu)、輕敲、相移成像(xiang)(Phase Imaging)等多(duo)種工作模式
橫向(xiang)力(li)(li)顯微(wei)鏡(LFM):具有摩(mo)(mo)擦(ca)力(li)(li)回(hui)路(lu)曲(qu)線(xian)、摩(mo)(mo)擦(ca)力(li)(li)載荷(he)曲(qu)線(xian)、摩(mo)(mo)擦(ca)力(li)(li)恒載荷(he)曲(qu)線(xian)等摩(mo)(mo)擦(ca)學性能(neng)分析測量(liang)功能(neng)
掃描隧道顯微(wei)鏡(jing)(STM):包括恒流(liu)模(mo)式、恒高模(mo)式、I-V曲(qu)線(xian)、I-Z曲(qu)線(xian)等(deng)
曲(qu)線(xian)測(ce)量分析功能:力(li)-距(ju)離曲(qu)線(xian)、振幅-距(ju)離曲(qu)線(xian)、相(xiang)移-距(ju)離曲(qu)線(xian)等(deng)
選(xuan)配(pei)功能
納米加工:包括(kuo)圖形刻蝕模式(shi)(shi)、壓(ya)痕/機械刻畫、矢(shi)量掃描模式(shi)(shi)、DPN浸(jin)潤筆模式(shi)(shi)等(deng)
磁力顯(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)/靜(jing)電(dian)力顯(xian)微(wei)(wei)鏡(jing)
環境控制(zhi)掃描探針顯微鏡
液相掃(sao)描探(tan)針顯微鏡
導電原(yuan)子力(li)顯(xian)微鏡(jing)
掃描探針聲學(xue)顯微鏡
掃描開爾文探(tan)針顯微鏡
掃(sao)描電容顯微鏡(jing)
壓電力顯微(wei)鏡
樣品溫度控(kong)制(zhi)系統(控(kong)溫范(fan)圍:-20~150℃)
樣(yang)品加熱(re)系統(控(kong)溫(wen)范圍:室溫(wen)~250℃)
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